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各種測(cè)厚儀的注意事項(xiàng)

        原理分類
        測(cè)厚儀大致可分為：
         1、接觸式測(cè)厚儀
        接觸面積的大小根據(jù)測(cè)量方法的不同來(lái)劃分：
        點(diǎn)接觸測(cè)厚儀

        面接觸測(cè)厚儀

       2．非接觸式測(cè)厚儀

        非接觸式測(cè)厚儀按其檢測(cè)原理不同可分為以下幾種：
        激光測(cè)厚儀
        超聲波測(cè)厚儀
        涂層測(cè)厚儀

        X射線測(cè)厚儀
        白光干涉測(cè)厚儀
        電解測(cè)厚儀
        管材測(cè)厚儀
        如何購(gòu)買(mǎi)
        1.塑料上的銅和鉻層：建議使用庫(kù)侖測(cè)厚儀（會(huì)損壞涂層）或X射線測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量），如10m~200m的銅層可以考慮渦流法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。
         2、金屬件上的鍍鋅層：如在鋼基材上應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)型磁感應(yīng)測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。對(duì)于其他金屬基材，請(qǐng)使用庫(kù)侖測(cè)厚儀（會(huì)破壞涂層）或 X 射線測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。
         3. 電泳漆和鐵基漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)型磁感應(yīng)測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。對(duì)于其他金屬基材上的電泳漆，應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的渦流測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。
         4、干膜是指固化后的油漆涂層。
         5、鍍鉻參見(jiàn)第2項(xiàng)和第1項(xiàng)。
         6、只能使用切割和楔入法（PIG，會(huì)破壞涂層），超聲波法（無(wú)損測(cè)量）可以測(cè)量10微米以上的涂層，但有時(shí)無(wú)法測(cè)量。
         7、價(jià)格：磁感應(yīng)法、渦流法0.6~30000；庫(kù)侖法0.8~60,000；超聲波法55~60,000； X射線測(cè)厚儀250,000~400,000。
        筆記
        測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁測(cè)厚法、輻射測(cè)厚法、電解測(cè)厚法、渦流測(cè)厚法、超聲波測(cè)厚法。
        測(cè)量注意事項(xiàng)：
         ⒈檢測(cè)時(shí)應(yīng)注意標(biāo)準(zhǔn)件的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)與試件相近。
         ⒉ 測(cè)量時(shí)保持側(cè)頭垂直于樣品表面。
         ⒊ 測(cè)量時(shí)注意母材的臨界厚度。如果大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不會(huì)受到母材厚度的影響。
         ⒋ 測(cè)量時(shí)要注意試樣的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此，在彎曲的試樣表面上進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
         ⒌注意測(cè)量前一周其他電氣設(shè)備是否會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)，會(huì)干擾磁性測(cè)厚方法。
         ⒍ 測(cè)量時(shí)注意不要在試件的內(nèi)角和邊緣附近測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的突變非常敏感。
         ⒎測(cè)量時(shí)保持壓力恒定，否則會(huì)影響測(cè)量讀數(shù)。
         ⒏ 測(cè)試時(shí)注意儀器探頭與試件直接接觸，使超聲波測(cè)厚儀去除對(duì)面的附著物。
        不同類型測(cè)厚儀的應(yīng)用
        1、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理來(lái)測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度。它是一種非接觸式動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工控機(jī)連接，快速處理數(shù)據(jù)，輸出偏差值至各種工控設(shè)備。
         2、當(dāng)X射線測(cè)厚儀穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線強(qiáng)度的變化與材料的厚度有關(guān)。
         3、紙張測(cè)厚儀：適用于測(cè)量4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板等片材的厚度。
         4、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)量薄膜、片材等材料的厚度。測(cè)量范圍寬，測(cè)量精度高。
         5、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量黑色金屬和有色金屬基材上涂層的厚度。
         6、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理進(jìn)行測(cè)厚的。當(dāng)發(fā)射的超聲波脈沖穿過(guò)被測(cè)物體并到達(dá)材料界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中的傳播時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。該原理可用于測(cè)量各種能使超聲波在其內(nèi)部勻速傳播的材料。